深度学习技术的缺陷库让半导体缺陷剔除并提高产量 在整个半导体生产过程中,机器视觉用于严格地监控质量和查找缺陷。制造商必须重视针脚刮擦、扭曲、弯曲或缺失等情况。 芯片容错率很低,市场广阔,制造商们都在拼质量来获得订单,如果存在任何缺陷,即使是在外表层,也会使芯片成为废品。 因为可能出现的缺陷类型太多,所以使用规则式算法对检测进行编程是非常低效的。显式搜索所有缺陷不但太复杂,而且费时。 如: 集成电路引线外观缺陷检测 半导体晶...
2024-04-18 10:31:59