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机器视觉在半导体检测中的应用

机器视觉是一种利用计算机和数字图像对物体进行图像分析和识别的技术，视觉系统以其检验精密度和速率高而且高效的防止人力检验面临的主观和个别差异的优点，在工业生产检验行业中占据更加关键的影响力。进一步提高了监测系统的高效率，并可对监测系统开展数据分析和剖析。它已经被广泛应用于半导体工业中，可以帮助企业提高生产效率和质量。本文将讨论机器视觉在半导体工业中的应用和市场前景。机器视觉在半导体检测中的应用 1.表面识别/可控性检测在半导体行业中，...

2024-07-17 10:22:29
【半导体行业知识】五种基本的半导体器件及其应用

虽然人们常用“半导体”指代“集成电路”，但严格说来二者并不是相同的概念。半导体实际上包括二极管、晶体管、集成电路（IC）、传感器和光电器件五个基本大类。 1、二极管：最简单的半导体器件二极管是最基本的半导体器件类型，只允许电流沿一个方向流动。这种电流的单向流动使得二极管在各种应用中都是必不可少的，尤其是在将交流电（AC）转换为直流电（DC）时。二极管的种类 1.整流二极管：这些二极管在电源中将交流电转换为直流电...

2024-07-17 10:17:58
前沿技术——晶圆AOI检测是什么？

一、晶圆AOI检测技术的由来在科技日新月异的今天，从智能手机到高性能计算机，再到各种智能设备，都离不开这些微小的芯片。而在这些芯片的生产过程中，一个至关重要的环节就是质量检测。想象一下，在一片12寸的晶圆上，密密麻麻地排列着几十上百万粒芯片，如何确保这些芯片在出货前都是完美无瑕的呢？如果仅仅依靠人工进行外观检测，那将是一项极其耗时且容易出错的工作。不仅效率低下，而且很难保证检测结果的准确性和一致性。按照目前的生产速度和人工检测的效率，估计出货日...

2024-07-16 09:41:33
晶圆缺陷检测：芯片之争的制胜利器

1.研究背景随着亚10 nm集成电路芯片逐步进入消费电子、互联硬件、电子医疗设备等领域，对典型缺陷进行高速识别、定位与分类，将极具挑战性。而纳米光子学、计算成像、定量相位成像、光学涡旋、多电子束扫描、热场成像以及深度学习等新兴技术，在提升缺陷灵敏度、分辨率以及对比度等方面已崭露头角，这将为晶圆缺陷检测提供新的可能。 2.晶圆缺陷检测标准是什么？评价准则为了更便捷地研究晶圆缺陷的可检测性，研究者们建立了缺陷检测灵敏度这一概念，以定量...

2024-07-16 09:35:59
简单科普：什么是明场检测与暗场检测？

明场与暗场要解释清楚明场检测与暗场检测，首先就要弄明白明场与暗场的区别。明场与暗场多少有点专业术语（黑话）的感觉，通俗点儿讲，所谓明场，可以简单的理解为背景是亮的缺陷是暗的；暗场则相反，背景是暗的缺陷是亮的。明场检测与暗场检测在半导体晶圆制造环节中，为提高产品良率、降低生产成本、推进工艺迭代，对晶圆制造过程中缺陷的检测至关重要。根据检测技术的不同，缺陷检测可分为电子束检测、光学检测以及X光量测三种。再根据光源方式、成像原理的差...

2024-07-15 10:07:51
半导体科普——晶圆和硅片的区别

晶圆的概念晶圆是指硅半导体集成电路制作所用的硅晶片，由于其形状为圆形，故称为晶圆。在硅晶片上可加工制作成各种电路元件结构，而成为有特定电性功能之IC产品。晶圆的原始材料是硅，而地壳表面有用之不竭的二氧化硅。晶圆的制造过程晶圆是制造半导体芯片的基本材料，半导体集成电路最主要的原料是硅，因此对应的就是硅晶圆。硅在自然界中以硅酸盐或二氧化硅的形式广泛存在于岩石、砂砾中，硅晶圆的制造可以归纳为三个基本步骤：硅提炼及提纯、单晶硅生...

2024-07-15 10:05:55